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更新時(shí)間:2025-11-08
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美國MKS真空計(jì)的工作原理
優(yōu)勢(shì)供應(yīng)美國MKS真空計(jì),常用型號(hào)大部分有現(xiàn)貨且價(jià)格有優(yōu)勢(shì),期待每一位新老用戶前來咨詢!供應(yīng)MKS流量計(jì)、MKS薄膜真空計(jì)、MKS流量控制閥 美國MKSMKS真空計(jì)的工作原理主要基于?電容薄膜傳感技術(shù)?,其核心是通過測量薄膜形變引起的電容變化來間接獲取真空壓力值?
具體過程如下:
?薄膜形變與電容變化?
當(dāng)真空腔內(nèi)的壓力作用于金屬薄膜時(shí),薄膜會(huì)發(fā)生微米級(jí)形變,導(dǎo)致薄膜與固定電極之間的間距改變。這種形變會(huì)直接引起電容值的變化(電容與間距成反比)?
?信號(hào)轉(zhuǎn)換與輸出?
電容變化通過電路轉(zhuǎn)換為電信號(hào),經(jīng)過放大和線性化處理后,最終輸出與壓力值成比例的電信號(hào)。該過程僅與壓力相關(guān),與氣體成分無關(guān),因此測量結(jié)果不受氣體類型影響?
?技術(shù)特點(diǎn)?
?測量范圍?:典型覆蓋0.01 Pa至1000 Pa,部分型號(hào)可擴(kuò)展至更高或更低范圍?
?精度優(yōu)勢(shì)?:電容式測量靈敏度高,適合低真空區(qū)域的精密監(jiān)測?
?溫度補(bǔ)償?:需在恒溫環(huán)境下使用以消除溫度對(duì)膜片材料性能的干擾?
與其他真空計(jì)原理對(duì)比
?皮拉尼規(guī)?:通過加熱電阻絲的熱損失與氣體濃度相關(guān)來測量,適用于中低真空(10^3 Pa至10^-1 Pa)?
?麥?zhǔn)险婵沼?jì)?:基于玻意耳-馬略特定律,通過壓縮氣體體積并測量液柱高度計(jì)算絕對(duì)壓力,作為基準(zhǔn)校驗(yàn)工具(0.1–650 Pa)?
?電離規(guī)?:利用氣體電離產(chǎn)生的離子流測量高真空(<10^-3 Pa),但需依賴氣體種類修正?
MKS真空計(jì)因其高穩(wěn)定性和寬量程,廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造、科研實(shí)驗(yàn)等對(duì)真空度要求嚴(yán)格的領(lǐng)域?
MKS真空計(jì)是工業(yè)領(lǐng)域常用的精密測量設(shè)備,廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、科研實(shí)驗(yàn)室等需要精確真空控制的場景。以下從產(chǎn)品特點(diǎn)、常見故障及維修、購買渠道等方面進(jìn)行介紹:
產(chǎn)品特點(diǎn)與技術(shù)迭代
MKS真空計(jì)以高精度和穩(wěn)定性著稱,例如?MKS 628F?型號(hào)在2023年發(fā)布后,通過優(yōu)化觸摸屏界面和平臺(tái)化設(shè)計(jì),提升了用戶交互體驗(yàn)與系統(tǒng)集成能力?
。其傳感器技術(shù)進(jìn)一步提高了測量精度,適用于從大氣壓到超高真空的廣泛范圍?
常見故障與維修
MKS真空計(jì)常見故障包括:
?電路板故障?:如電源模塊燒毀、二極管損壞等,可能導(dǎo)致輸出值恒定不變?
?傳感器故障?:表現(xiàn)為測量不準(zhǔn)確或啟動(dòng)無反應(yīng)?
?電源問題?:如防反接整流二極管因電流過大燒壞?
維修時(shí)需更換損壞元件,并在真實(shí)真空環(huán)境中驗(yàn)證修復(fù)效果?
該355001YE熱陰極替換表特點(diǎn)是一個(gè)YTTRA覆蓋的虹膜長絲和一個(gè)尺寸的NW25ISO-KF配件。
它與355系列微型原子能(ion)真空傳感器一起使用,后者擁有的雙離子收集器設(shè)計(jì),能夠優(yōu)化電子運(yùn)動(dòng)和離子收集。
MKS 355001-YE真空壓力傳感器技術(shù)規(guī)格
類型:真空計(jì)
傳感器類型:貝達(dá)爾珀特?zé)彡帢O
測量范圍:5 x 10 -10 - 5 x 10 -2 托勒
適合類型:國際標(biāo)準(zhǔn)化組織
細(xì)絲:YTRA包膜的硅
外露材料:304不銹鋼、氧化鋁、鉭、鎢、銅共晶,科瓦爾
烤出溫度:最高200℃。
內(nèi)部卷:10.3厘米 3 (0.66 in 3 )至端口屏幕
X線限:<3 x 10 -10 Torr, <4 x 10 -10 mbar, <4 x 10 -8 Pa